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半导体晶圆PL光谱测试系统 参考价：面议
半导体晶圆PL光谱测试系统针对第三代半导体，如GaN、InGaN、AlGaN等，进行温度相关光谱和荧光寿命测试。同时可测量外延片的膜厚、反射率及相应的Mappi...
鹰眼系列3D形貌测试仪 参考价：面议
鹰眼系列3D形貌测试仪这款仪器采用非接触式线光谱共焦快速扫描技术，能够高精度还原产品的3D结构，对肉眼不可见的结构缺陷都能准确检测。
光谱角分布测量系统 参考价：面议
光谱角分布测量系统， 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作， 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台...
时间分辨红外吸收光谱测量系统 参考价：面议
时间分辨红外吸收光谱测量系统既可测量通过样品的连续光谱透射（吸收），也可测量时间分辨红外光谱，红外吸收光谱测量范围：2-10μm（MCT）/1-5.5μm（Ib...
光学镜头光谱透过率检测系统 参考价：面议
光学镜头光谱透过率检测系统测量光学镜头的光谱透过率（光学镜头透过率10%），谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存，并可...
防护眼镜光谱和积分透射比测量系统 参考价：面议
防护眼镜光谱和积分透射比测量系统可测平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防护用品，透过率重复性：R0.01
建筑玻璃透反射光谱测量系统 参考价：面议
建筑玻璃透反射光谱测量系统采用卓立汉光的技术（号：ZL 201220078394.9，一种宽光谱透射、反射测量装置）优化设计而成，满足建筑玻璃的标准测试需求，同...
紫外可见分光光度标准系统 参考价：面议
本装置是为中国计量科学研究院研制的紫外可见分光光度标准系统。这是个单光束系统，样品垂直放在该平行光束中，测量其透射比。该装置主要由四部分组成：双单色仪、光源室、...
平面材料漫反射率测量系统 参考价：面议
平面材料漫反射率测量系统结构与Omni-DR300 相同，但系统测试光为由下至上8 度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm 平台，方便放置各类平面待测物...
固体粉末漫反射率测量系统 参考价：面议
Omni-DR300固体粉末漫反射率测量系统采用宽波段波长可调单色光源和积分球整合而成，测试光为垂直光路，样品盛放装置为小型抽屉式样品盒，方便放置粉末类样品，易...
光电化学电池量子效率测试系统 参考价：面议
全新的光电化学电池量子效率测试系统，用于测量光电化学太阳能电池量子效率IPCE和伏安特性曲线等参数，测量过程自动完成，使用简单方便。
LED光学测量系统 参考价：面议
LED光学测量系统采用了卓立汉光公司自行研制的SGM100摄谱仪以及CCD采集装置，可完成发射光谱的测量，尤其针对LED的光学检测，开发了一系列配套的光强、光通...
发射光谱测量系统 参考价：面议
发射光谱测量系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
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